缺陷检测加速应用

发布者: AMD

缺陷检测加速应用是一种机器视觉应用,可使用 Vitis 视觉库功能自动检测缺陷(例如水果、PCB)以及在高速工厂管道中进行分类。

缺陷检测加速应用框图

特性:

  • 低延迟缺陷检测管道
  • 水果缺陷检测和分类
  • HDMI 或 DIsplayPort 输出
  • 用户可编程 Vitis 视觉库功能
  • 包含硬件设计的完整应用
常见问题解答

不,该应用不需要任何 FPGA 设计经验。

此应用由 AMD 免费提供。

否,该应用已针对 OnSemi AR0144 进行了优化和测试。为了使该应用适应另一个传感器,您将必须更新设计并针对新传感器优化应用。

主要资料
通过自适应计算助力电力驱动控制和效率
通过自适应计算助力电力驱动控制和效率

AMD Kria™ 自适应模块系统 (SOM) 器件在电力驱动控制中发挥着重要作用。这些器件可用于优化性能、更高效地驱动电机、降低功耗、降低噪音、抑制振动,甚至提前检测潜在故障。下载全新的电机控制电子书以了解更多信息!

使用自适应计算加速您的 AI 边缘解决方案
使用自适应计算加速您的 AI 边缘解决方案

了解有关自适应 SOM 的所有信息,以实例解释了自适应 SOM 为什么适合下一代边缘应用,以及如何在下一代边缘应用中部署自适应 SOM。本书还强调了智能视觉提供商如何从只有自适应 SOM 才能实现的性能、灵活性及快速开发等优势中获益。

机器人自适应计算
机器人自适应计算

对机器人的需求正在迅速增长。构建一款既安全又能与人一起工作的机器人已经够难了。还要让这些技术协同工作,则更具挑战性。更复杂的是,机器学习和人工智能的加入,增加了满足计算需求的难度。

机器人专家正在转而采用自适应计算平台,其可在一个适应未来、可扩展的自适应集成型平台上实现内建的安全功能,从而可提供低时延、确定性的多轴控制。参阅 eBook,了解更多信息。